“2009•MCU技術創(chuàng)新與應用大會”近日完美謝幕。深圳金凱博電子公司技術代表在會上作了《全面加速您的嵌入式設計》的主題演講，并介紹了美國泰克公司在嵌入式系統(tǒng)當中的測試方案、美國Fluke的紅外測溫方案，通過互動交流等形式贏得了與會專家、技術人員的稱譽。
金凱博技術代表表示，當今嵌入式系統(tǒng)無處不在，我們身邊的許多系統(tǒng)都是嵌入式系統(tǒng)，比如A/D、閃存和CPU，當然避免不了最基礎的電源，最后是一些并行和串行的控制總線等。嵌入式系統(tǒng)實際上是采用專用微處理器或微型控制器的緊湊型專用計算設備，一般執(zhí)行非常具體的預先規(guī)定的任務，旨在滿足特定的功能，或者集成在大得多、復雜得多的設備內(nèi)部，如汽車系統(tǒng)、航空電子、網(wǎng)絡設備、工業(yè)控制、醫(yī)療器械、消費電子和通信網(wǎng)絡。
據(jù)介紹，在這個過程中，工程師面臨的關鍵測試挑戰(zhàn)之一是能夠采集和監(jiān)測不同的信號和協(xié)議。設計工程師必需能夠生成各種信號，測試被測設備(DUT)的極限，確定設計在實際環(huán)境中的行為結(jié)果。他們需要測試解決方案能夠捕獲及可視化復現(xiàn)這些信號，以檢驗信號完整性。他們需要在一條總線上多個數(shù)字信號之間的精密定時信息，調(diào)試建立時間和保持時間違規(guī)。在許多情況下，在硬件工程師和軟件工程師合作調(diào)試某個問題的根本原因時，他們要求能夠查看總線上的信息，不僅包括電氣表示，還要包括較高的提取等級，如微處理器的匯編碼代碼或串行總線協(xié)議的解碼圖。許多設計由大量的硬件組件執(zhí)行特定任務，這些任務可能位于電路板的不同部分。為保證組件之間正確交互，嵌入式工程師需有對DUT(被測設備)系統(tǒng)級的視角。挑戰(zhàn)是保證組件操作同步，這意味著測試設備必需能夠提供與定時性能有關的準確信息，同時創(chuàng)建更高級的提取和分析功能。
據(jù)了解，作為高交會電子技術的主題會議，“2009•MCU技術創(chuàng)新與應用大會”吸引了超過500名的業(yè)界精英齊聚一堂，如金凱博、iSuppli、 恩智浦、ARM、意法半導體、中國軟件行業(yè)協(xié)會、康佳、盛揚，以及海爾集成電路的專家，一起參與交流和探討，并通過軟件、測試和案例分享等形式，分析了MCU技術與市場的格局及發(fā)展趨勢。
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