

FASTRACK™直線光柵性能優(yōu)勢
企業(yè)信息
高精度直線光柵
由于Renishaw的先進(jìn)刻劃工藝,用于FASTRACK的RTLC和RTLA柵尺具有±5 µm/m的給定精度,無需補(bǔ)償。 更令人耳目一新的是,實際安裝精度典型情況下接近于±2 µm/m;就性能指標(biāo)而言大大領(lǐng)先于對手。 此外,利用Renishaw的XL-80校準(zhǔn)激光干涉儀進(jìn)行簡單的兩點補(bǔ)償,線性誤差得到了嚴(yán)格控制,
曲線圖顯示了在未經(jīng)補(bǔ)償?shù)那闆r下RTLC和FASTRACK的典型精度結(jié)果。
測量優(yōu)勢
FASTRACK的典型設(shè)計能夠在極高的加速度負(fù)載下使柵尺保持原有位置,大大減少了兩個部件之間的摩擦力,因此允許柵尺在規(guī)定的膨脹系數(shù)范圍內(nèi)自由膨脹。 因此滯后也保持在最低水平……在整個工作溫度范圍內(nèi),采用中心固定的2 m軸上的滯后僅為1 µm!
FASTRACK的另一個獨特的測量優(yōu)勢是夾緊方法,即將柵尺鎖定到底板的單個點上,而柵尺不發(fā)生變形;與用在傳統(tǒng)托架形光柵上的夾具相比,這是一項重大改進(jìn)。 此種方法使系統(tǒng)構(gòu)造器可以將柵尺固定在機(jī)器的理想位置上,而不會影響該區(qū)域的精度;此特性對于中心固定高精度軸尤其重要。
改進(jìn)的運動控制性能
TONiC采用新一代創(chuàng)新光學(xué)濾波系統(tǒng),噪聲(抖動)更低,包括自動增益控制和自動偏移量控制在內(nèi)的動態(tài)信號處理使其功能更強(qiáng)大,因此具有極佳的可靠性和抗污染能力。 超低電子細(xì)分誤差 (SDE) 可實現(xiàn)更為平穩(wěn)的速度控制,掃描性能及位置穩(wěn)定性均獲得提高。 1 nm版本的TONiC(2009年9月起有售)具有額外的降噪能力,實現(xiàn)令人稱奇的0.5 nm RMS的抖動水平。
RESOLUTE的優(yōu)異性能是成熟、可靠和完全獨創(chuàng)的工作方法的成果。 可以將RESOLUTE當(dāng)成超高速微型數(shù)碼相機(jī),對由長的非重復(fù)條形碼組成的柵尺進(jìn)行拍照。 RESOLUTE對這些照片進(jìn)行分析,確定位置,分辨率可達(dá)1 nm,噪聲(抖動)和SDE(電子細(xì)分誤差,一個柵距周期內(nèi)的誤差)都很低。 這可以提供極高保真度的光柵反饋,確保更平穩(wěn)的速度控制和超強(qiáng)的位置穩(wěn)定性。
極佳的堅固性!
FASTRACK特別設(shè)計用于柵尺易損的應(yīng)用場合。 FASTRACK和柵尺均為硬化不銹鋼材質(zhì),可以抵抗跌落的玻璃、刀具或其它意外撞擊所帶來的損壞。 即使出現(xiàn)損壞,成熟的光學(xué)技術(shù)和極高的抗污能力也能確保對信號水平的影響微乎其微。

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