為了確保提供質(zhì)量達標、穩(wěn)定可靠且堅固耐用的產(chǎn)品，包括汽車行業(yè)、光學(xué)行業(yè)、醫(yī)療設(shè)備制造業(yè)甚至電子和半導(dǎo)體行業(yè)在內(nèi)的眾多工業(yè)領(lǐng)域，無論是在專業(yè)計量室還是在生產(chǎn)質(zhì)檢環(huán)節(jié)，均已開始大規(guī)模應(yīng)用測量和測試系統(tǒng)。在業(yè)開發(fā)測試程序的過程中，新的挑戰(zhàn)不斷浮現(xiàn)：由于新材料制成的新產(chǎn)品上市頻率越來越快，所以必須在更短的時間內(nèi)制造和檢驗更多的產(chǎn)品。此外，在形狀和表面結(jié)構(gòu)方面，部件和功能也變得更加小型化和多樣化。因此，要想實現(xiàn)可靠的質(zhì)檢，定位解決方案不可或缺。此類方案能夠以精確且協(xié)調(diào)的方式移動部件和測試組件(如攝像機和傳感器)、通常具備多種自由度，并且能夠在不影響產(chǎn)量的前提下輕松集成到生產(chǎn)線中。得益于產(chǎn)品和技術(shù)的多樣性以及在精密自動化領(lǐng)域的豐富經(jīng)驗，PI能夠為客戶測試過程中的任何定位任務(wù)提供最佳的運動和控制解決方案。因此，PI可確保在先進測量技術(shù)的開發(fā)期間實現(xiàn)更快的初始啟動速度、更好的適配度和更有力的支持。

　　PI可提供以下應(yīng)用的運動和控制解決方案：

　　非接觸式2D/3D表面輪廓分析

　　觸覺測量與測試

　　加速度和位置傳感器測試

　　自動光學(xué)檢測(AOI)

　　相機和傳感器對準

　　測試和改進圖像捕捉

　　在較差的照明條件下拍攝清晰照片、快速拍照而不出現(xiàn)模糊、識別交通標志和道路標記，或使用特定系統(tǒng)識別危險情況 - 這些任務(wù)對于現(xiàn)今的相機來說并非難事。但使用相機或智能手機拍攝的靜態(tài)圖片和視頻的質(zhì)量如何呢?

　　借助六足位移臺的運動模擬功能實現(xiàn)可靠測試并提高圖像質(zhì)量

　　在較差的照明條件下拍攝清晰照片、快速拍照而不出現(xiàn)模糊、識別交通標志和道路標記，或使用特定系統(tǒng)識別危險情況 -這些任務(wù)對于現(xiàn)今的相機來說并非難事。但使用相機或智能手機拍攝的靜態(tài)圖片和視頻的質(zhì)量如何呢?與其他供應(yīng)商的產(chǎn)品相比又如何呢? 廣大的終端用戶，智能手機、無人機、AR/VR耳機和相機的制造商，以及汽車、航運、醫(yī)療和安全行業(yè)的公司，都對靜態(tài)圖片和視頻的質(zhì)量有很高要求，并一直期望獲得能夠推動行業(yè)創(chuàng)新的解決方案。

　　要回答上述問題，需要測試用于避免圖像模糊的穩(wěn)像組件對真實運動的補償效果。例如，測試位置傳感器或陀螺儀、加速度傳感器、相機模塊或圖像傳感器、激光雷達傳感器或車船上的操作裝置。在測試過程中，必須以相同的條件拍攝并評估數(shù)千張圖像!其挑戰(zhàn)不僅在于確保可重復(fù)性，還要模擬在不同速度和運動順序下的各種快速運動，比如攝影師的抖動、車輛或無人機的振動。

　　支持復(fù)雜運動輪廓的六軸并聯(lián)位移臺

　　支持復(fù)雜運動輪廓是六足位移臺的任務(wù)之一。該六軸定位系統(tǒng)滿足運動軸、動力學(xué)、路徑精度和可重復(fù)性等多方面要求，能夠精確而快速地模擬真實的操作條件。PI與客戶密切合作，分析了各個測試程序和測試對象對六足位移臺的要求，并針對復(fù)雜運動輪廓進行了現(xiàn)場驗證。此外，PI還提供多種六足位移臺類型和編輯選項，以便快速應(yīng)對不斷變化的測試設(shè)備要求和相機操作條件。

　　確保形狀精度 非球面透鏡具有繞光軸旋轉(zhuǎn)對稱的光學(xué)元件，其曲率半徑隨距中心的距離呈徑向變化。光學(xué)系統(tǒng)能夠通過這一原理獲得高質(zhì)量的圖像，從而減少所需的元件數(shù)量，進而節(jié)省成本和重量。

　　六足位移臺助力提高非球面透鏡的分析精度和速度

　　非球面透鏡具有繞光軸旋轉(zhuǎn)對稱的光學(xué)元件，其曲率半徑隨距中心的距離呈徑向變化。光學(xué)系統(tǒng)能夠通過這一原理獲得高質(zhì)量的圖像，從而減少所需的元件數(shù)量，進而節(jié)省成本和重量。然而，對于制造商而言，測試非球面透鏡的形狀精度(即此類透鏡的成像質(zhì)量)相當(dāng)具有挑戰(zhàn)性：用戶需要測量納米級的微小形狀偏差，同時盡量縮短測量和設(shè)置時間。

　　全新技術(shù)：傾斜波陣面技術(shù)

　　出于上述原因，計量公司Mahr開發(fā)了一款新型儀器，直接在生產(chǎn)線上對不同的非球面透鏡進行精確、快速、靈活的測量，而不需要CGH、傳統(tǒng)縫合或觸覺接觸。與需要花費數(shù)分鐘進行測量的現(xiàn)有系統(tǒng)相比，此傾斜波陣面干涉儀只需20到30秒即可測量整個表面。 在評估前一個測試對象的同時，可以測量下一個測試對象。干涉儀經(jīng)過專門設(shè)計，能夠以很高的橫向分辨率測量整個表面形狀，測量不確定度小于50 nm。

　　與其他測量設(shè)備一樣，干涉儀需設(shè)定參考并經(jīng)過校準。為此，干涉儀中包含一個根據(jù)既有幾何規(guī)范制造的高精度球體，可移動到測量體中的不同位置以進行校準。由于校準球的橫向位置誤差會影響校正算法，因此必須在空間中精確定位校準球，并且必須在測量過程中保持其位置穩(wěn)定。此校準過程應(yīng)涵蓋整個測量體積，因此需在許多不同位置執(zhí)行。

　　在多種自由度下定位校準球和測試對象

　　為滿足干涉儀定位任務(wù)的嚴格要求，PI通過六軸并聯(lián)位移臺為Mahr提供支持。該位移臺可在多種自由度下精確定位校準球和測試對象，以改進形狀精度的光學(xué)分析。