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電子設(shè)計(jì)自動(dòng)化技術(shù)的領(lǐng)導(dǎo)廠商MentorGraphics近日發(fā)布一份題為《汽車如何推動(dòng)新的可測(cè)性設(shè)計(jì)(DFT)技術(shù)》的研究報(bào)告。中文版的報(bào)告全文可在MentorGraphics的官方網(wǎng)站閱讀和下載：http://mentorg.com.cn/aboutus/view.php?id=256。

背景介紹

隨著人們對(duì)安全關(guān)鍵應(yīng)用設(shè)備，尤其是汽車IC（集成電路），提出了新的需求，DFT（可測(cè)性設(shè)計(jì)）技術(shù)又再次受到重視。越來(lái)越多的處理器被運(yùn)用于汽車的剎車系統(tǒng)、發(fā)動(dòng)機(jī)控制、平視顯示器、導(dǎo)航系統(tǒng)和圖像傳感器等等。這些芯片必須滿足非常高的質(zhì)量和可靠性標(biāo)準(zhǔn)，所以芯片制造商也必須進(jìn)行高水平的生產(chǎn)測(cè)試和系統(tǒng)內(nèi)部測(cè)試。不僅如此，他們還必須在盡可能提升測(cè)試水平的同時(shí)，確保測(cè)試時(shí)間和成本不會(huì)增加。

全文要點(diǎn)與大綱如下：

幾種芯片測(cè)試方法

如今有兩種測(cè)試方法被眾多安全關(guān)鍵設(shè)備開(kāi)發(fā)商迅速采納--單元識(shí)別(Cell-Aware)自動(dòng)測(cè)試向量生成(ATPG)法和ATPG/邏輯內(nèi)建自測(cè)試(LBIST)綜合運(yùn)用法。單元識(shí)別測(cè)試法可實(shí)現(xiàn)每百萬(wàn)缺陷數(shù)(DPM)為零的目標(biāo)。綜合測(cè)試法則通過(guò)將ATPG和LBIST邏輯電路測(cè)試法相結(jié)合來(lái)提高測(cè)試質(zhì)量和效率。

事實(shí)證明，單元識(shí)別ATPG測(cè)試法是唯一可以發(fā)現(xiàn)傳統(tǒng)方法檢測(cè)不出的缺陷的方法。它可以發(fā)現(xiàn)一套完整的針對(duì)固定故障、節(jié)點(diǎn)跳變和時(shí)延缺陷的測(cè)試方法發(fā)現(xiàn)不了的缺陷，因?yàn)檫@種方法首先就對(duì)標(biāo)準(zhǔn)單元進(jìn)行物理布局時(shí)可能出現(xiàn)的實(shí)際缺陷進(jìn)行模擬。在新技術(shù)的改進(jìn)下，單元識(shí)別測(cè)試法中的測(cè)試向量大小得以縮小，但整個(gè)測(cè)試向量仍大于傳統(tǒng)的測(cè)試方法產(chǎn)生的測(cè)試向量，因此要進(jìn)行嵌入式壓縮。許多公司因?yàn)椴捎脝卧R(shí)別測(cè)試法而收效顯著。部分成效的概述請(qǐng)見(jiàn)圖1。

圖1：截至2013年12月來(lái)自使用單元識(shí)別測(cè)試法的公司的硅結(jié)果。安森美半導(dǎo)體(OnSemiconductor)結(jié)果在2013年ETS上進(jìn)行了發(fā)布；AMD結(jié)果在2012年ITS上進(jìn)行了發(fā)布。

越來(lái)越多的客戶在設(shè)計(jì)相同的電路時(shí)同時(shí)采用嵌入式壓縮和LBIST測(cè)試法。由于這兩種技術(shù)能夠以類似的方式運(yùn)用掃描鏈，因此可以將兩者整合成可共享的統(tǒng)一邏輯，從而幫助客戶更有效地運(yùn)用這種方法。綜合測(cè)試邏輯架構(gòu)請(qǐng)見(jiàn)圖2。

圖2：混合壓縮邏輯架構(gòu)和邏輯內(nèi)建自測(cè)試共享大部分解壓?jiǎn)卧?LFSR和壓縮單元/MSIR邏輯。

嵌入式壓縮解壓?jiǎn)卧谠O(shè)計(jì)上也可整合進(jìn)線性反饋移位寄存器(LFSR)，為邏輯內(nèi)建自測(cè)試帶來(lái)偽隨機(jī)模式。邏輯內(nèi)建自測(cè)試和嵌入式壓縮邏輯都可通過(guò)相移位器為掃描鏈提供數(shù)據(jù)，這樣邏輯得以完全共享。掃描鏈結(jié)果通過(guò)嵌入式壓縮擠壓到一起。該邏輯主要與邏輯內(nèi)建自測(cè)試混合使用，減少進(jìn)入一個(gè)簽名計(jì)算器的掃描鏈結(jié)果數(shù)量。與單獨(dú)進(jìn)行嵌入式壓縮和邏輯內(nèi)建自測(cè)試相比，該共享邏輯可讓控制器尺寸縮小20%至30%。

混合測(cè)試法的優(yōu)點(diǎn)

混合使用嵌入式壓縮和邏輯內(nèi)建自測(cè)試的一大好處便是雙方互補(bǔ)。例如，嵌入式壓縮可實(shí)現(xiàn)非常高品質(zhì)的生產(chǎn)測(cè)試。這意味著您需要較少的邏輯內(nèi)建自測(cè)試點(diǎn)就可以提高隨機(jī)抵抗性邏輯的可測(cè)性，這可縮小邏輯內(nèi)建自測(cè)試點(diǎn)的面積。相反地，X-bounding以及任何為邏輯內(nèi)建自測(cè)試增加的測(cè)試點(diǎn)都可提高電路的可測(cè)性，并改善嵌入式壓縮覆蓋和模式計(jì)數(shù)結(jié)果。

汽車電子是半導(dǎo)體行業(yè)增長(zhǎng)最迅速的領(lǐng)域之一，這些安全關(guān)鍵型設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)正推動(dòng)新DFT技術(shù)的出現(xiàn)。嵌入式壓縮的發(fā)明是重要的測(cè)試進(jìn)步。

報(bào)告作者簡(jiǎn)介

RonPress是明導(dǎo)硅測(cè)試解決方案產(chǎn)品的技術(shù)營(yíng)銷經(jīng)理。他在測(cè)試和DFT（可測(cè)性設(shè)計(jì)）行業(yè)有著25年的經(jīng)驗(yàn)，曾多次出席全球各地的DFT和測(cè)試研討會(huì)。他發(fā)表了數(shù)十篇與測(cè)試相關(guān)的論文，是國(guó)際測(cè)試會(huì)議(ITC)指導(dǎo)委員會(huì)的成員、IEEE計(jì)算機(jī)學(xué)會(huì)(IEEEComputerSociety)的GoldenCore成員以及IEEE的高級(jí)會(huì)員。Press擁有多項(xiàng)減少引腳數(shù)測(cè)試和無(wú)毛刺的自由時(shí)鐘切換的專利，并正在申請(qǐng)3DDFT專利。

關(guān)于MentorGraphics

MentorGraphics公司是電子硬件和軟件設(shè)計(jì)解決方案(EDA)的全球領(lǐng)導(dǎo)者，為世界上最成功的通信、半導(dǎo)體，計(jì)算機(jī)，消費(fèi)電子，汽車電子和國(guó)防軍工公司提供優(yōu)質(zhì)產(chǎn)品、咨詢服務(wù)和支持,可加快客戶電子及機(jī)械產(chǎn)品的研發(fā)速度，提高產(chǎn)品質(zhì)量，增加成本效益。工程師可借助公司不斷推出的新產(chǎn)品及解決方案，應(yīng)對(duì)日趨復(fù)雜的電路板及芯片設(shè)計(jì)領(lǐng)域面臨的挑戰(zhàn)。MentorGraphics公司擁有業(yè)內(nèi)最為豐富的頂級(jí)產(chǎn)品線，提供完整的SOC/IC/FPGA/PCB/SI設(shè)計(jì)工具和服務(wù)，并且是唯一一家擁有嵌入式軟件解決方案的EDA公司。公司成立于1981年，目前有超過(guò)70家分公司分布世界各地。

公司總部地址：8005S.W.BoeckmanRoad,Wilsonville,Oregon97070-7777。

上市公司（納斯達(dá)克代碼：MENT)

成立于1981年，總部位于俄勒岡州威爾遜維爾市

全球設(shè)有70多個(gè)分公司或辦事處

已在中國(guó)上海、北京、深圳設(shè)立分支機(jī)構(gòu)

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