2011 年 6月22 日，北京――安捷倫科技公司（NYSE：A）日前宣布發(fā)布最新版本的器件建模軟件平臺(tái)――集成電路表征和分析程序。IC-CAP 2011.04 將 IC-CAP Wafer Professional 自動(dòng)測(cè)量解決方案與 IC-CAP CMOS 模型提取套件相結(jié)合，能夠顯著改善半導(dǎo)體器件的建模流程。

      先進(jìn)的 CMOS 器件建模需要執(zhí)行大量測(cè)量，以分析制程趨勢(shì)，確定提取典型和邊際器件模型所需的數(shù)據(jù)。管理和分析數(shù)據(jù)，以確保為復(fù)雜的模塊提取和驗(yàn)證做出正確的選擇，是一項(xiàng)很大的挑戰(zhàn)。這通常需要建模團(tuán)隊(duì)使用多種軟件工具來(lái)轉(zhuǎn)換將數(shù)據(jù)格式，但這樣既不精確又缺乏效率。IC-CAP WaferPro 幫助用戶以最有效的方式收集和管理大量數(shù)據(jù)。現(xiàn)在，IC-CAP CMOS 建模套件首次能夠與 WaferPro 完美結(jié)合。

      通過(guò) IC-CAP 2011.04，用戶能夠在 Agilent CMOS 套件環(huán)境中定義器件和測(cè)量測(cè)試，自動(dòng)生成可在各種測(cè)試設(shè)備上執(zhí)行的 WaferPro 測(cè)試方案。通過(guò) WaferPro 表征各種幾何形狀的器件后，CMOS 提取模塊將自動(dòng)讀取測(cè)量數(shù)據(jù)用于模型提取。由于不需要在測(cè)量和建模應(yīng)用之間進(jìn)行數(shù)據(jù)傳輸或格式轉(zhuǎn)化，這極大地提高了流程效率。

      Agilent EEsof EDA 事業(yè)部產(chǎn)品經(jīng)理 Roberto Tinti 表示：“從 2010 版本開(kāi)始，IC-CAP WaferPro 憑借其性能、靈敏度、對(duì)測(cè)試儀器和系統(tǒng)的廣泛支持，以及最大程度地幫助使用實(shí)驗(yàn)室設(shè)備等優(yōu)勢(shì)，已經(jīng)日益成為客戶的理想選擇。我們非常高興地將 WaferPro 的強(qiáng)大功能提供給所有 Agilent CMOS 提取套件用戶。這樣，我們可以幫助他們更有效地安排從測(cè)量到提取從整個(gè)流程?！?/p>

      除了 WaferPro 和 CMOS 套件組合，IC-CAP 2011.04 還增加了對(duì) Windows 7 的支持，并且改進(jìn)了仿真、測(cè)量和編程環(huán)境中的幾個(gè)平臺(tái)。增強(qiáng)功能包括使用 Verilog-A 和 Agilent ADS 仿真器（在IC-CAP 分析模塊中免費(fèi)使用，無(wú)需額外的許可證）進(jìn)行仿真，并支持 spice 網(wǎng)表中的 PARAM語(yǔ)法格式。此外，WaferPro 現(xiàn)在支持 Tokyo Electron P8/P12 全自動(dòng)探針臺(tái)，同時(shí) Agilent B1505A 直流功率分析儀驅(qū)動(dòng)程序支持在多個(gè)偏置單元上進(jìn)行脈沖偏置。

關(guān)于 IC-CAP WaferPro 和 CMOS 建模套件

      Agilent W8510 IC-CAP WaferPro 通過(guò)控制半自動(dòng)和全自動(dòng)探針臺(tái)和先進(jìn)儀器（例如 Agilent 4080 參數(shù)測(cè)試儀），支持用戶以不同的溫度執(zhí)行自動(dòng)晶圓上測(cè)量。它是進(jìn)行 DC-CV 和射頻器件建模測(cè)量的最強(qiáng)大的測(cè)量套件。IC-CAP CMOS 測(cè)量和提取套件提供專用的軟件環(huán)境，以提取先進(jìn) CMOS 器件的典型和邊際模型。它完全支持用于 CMOS 業(yè)界標(biāo)準(zhǔn)模塊（例如 BSIM3、BSIM4、PSP 和 HiSIM）的有效的參數(shù)提取程序。該套件能夠在提取當(dāng)前 CMOS 器件的復(fù)雜多樣的模型過(guò)程中，適當(dāng)?shù)仄胶庖绘I式解決方案的效率及自定義參數(shù)提取的需要。

關(guān)于 IC-CAP 軟件

      Agilent IC-CAP 軟件是一個(gè)器件建模程序，擁有強(qiáng)大的表征和分析功能，可用于當(dāng)今的半導(dǎo)體建模工藝。IC-CAP 可以高效、準(zhǔn)確地提取有源器件參數(shù)和電路模型參數(shù)，執(zhí)行多項(xiàng)建模任務(wù)，包括儀器控制、數(shù)據(jù)采集、圖形分析、仿真和優(yōu)化等。半導(dǎo)體代工廠和設(shè)計(jì)公司利用它來(lái)表征晶圓工藝。

如欲了解有關(guān) IC-CAP2011.04 的更多信息，請(qǐng)?jiān)L問(wèn) www.agilent.com/find/eesof-iccap2011_04。查看用于 IC-CAP 的 IC-CAP WaferPro 和 CMOS 模塊提取套件的高分辨率圖片，請(qǐng)?jiān)L問(wèn) www.agilent.com/find/iccap2011_04_images。