新聞發(fā)布 － 2013年3月－美國國家儀器公司 （National Instruments, 簡稱 NI）作為金牌贊助商參加于2013年3月12日至14日在北京國際會(huì)議中心舉辦的首屆電子設(shè)計(jì)創(chuàng)新會(huì)議（EDI CON）。為期三天的會(huì)議為中國的高頻/高速電子行業(yè)打造了一個(gè)全新的技術(shù)交流平臺，NI也攜其射頻領(lǐng)域的最新產(chǎn)品亮相此次展會(huì)。

走進(jìn)北京國際會(huì)議中心位于一樓的EDI CON展廳，迎面就可以看到NI與其子公司AWR的聯(lián)合展位。NI向來訪客戶展示了其在射頻領(lǐng)域的最新產(chǎn)品和解決方案，例如NI基于矢量信號收發(fā)儀（VST）的信道仿真器與全新WLAN 802.11ac測試方案。通過比較，我們可以看到這款基于PXI平臺的射頻儀器具備可以與傳統(tǒng)箱式儀器媲美的性能指標(biāo)，同時(shí)又兼具靈活性。在NI展臺還可以看到其最新發(fā)布的矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀與頻譜監(jiān)測儀等其它高性能射頻儀器。

NI不僅在硬件和軟件上不斷研發(fā)高端及和射頻相關(guān)的產(chǎn)品，此外NI還在行業(yè)中尋找相關(guān)的頂尖廠商進(jìn)行合作，以豐富NI的射頻技術(shù)，使NI能有一個(gè)更加完整和可靠的射頻硬件平臺，從而為NI的客戶在射頻和微波領(lǐng)域提供更好的解決方案。AWR就是NI收購的一家在高頻設(shè)計(jì)和建模上處于領(lǐng)先地位的EDA公司。此次AWR參加EDI CON，為客戶帶來了專門用于開發(fā)高頻無線設(shè)計(jì)的具有新的功能和增強(qiáng)功能的AWR Design Environment™最新版本。這個(gè)10.04最新版本包括Microwave Office®/Analog Office® 電路設(shè)計(jì)軟件和Visual System Simulator™ (VSS)系統(tǒng)設(shè)計(jì)軟件，以及AXIEM® 3D平面電磁（EM）軟件和 Analyst™有限元法（FEM）EM軟件的更新和許多創(chuàng)新技術(shù)。

在展會(huì)同期，NI還為廣大工程師與科研人員帶來了精彩紛呈的技術(shù)會(huì)議。NI資深研發(fā)工程師饒勇先生為大家?guī)砹艘环N新型基于LabVIEW FPGA的8×8MIMO設(shè)計(jì)的技術(shù)討論；NI射頻與微波經(jīng)理Nikhil Ayer先生則和大家探討了有關(guān)軟件無線電，實(shí)時(shí)頻譜分析以及射頻測試中的同步等熱點(diǎn)問題；NI中國技術(shù)市場工程師姚遠(yuǎn)先生，為大家介紹了軟件定義的模塊化的解決方案在射頻與微波測試領(lǐng)域的優(yōu)勢及相關(guān)案例。

目前在中國的無線射頻和微波領(lǐng)域誕生了諸多無線標(biāo)準(zhǔn)，像TD-LTE標(biāo)準(zhǔn)、物聯(lián)網(wǎng)的標(biāo)準(zhǔn)及三網(wǎng)合一的標(biāo)準(zhǔn)等等。這些標(biāo)準(zhǔn)的產(chǎn)生都給測試帶來了很大的挑戰(zhàn)。NI基于軟件的測試系統(tǒng)可以很快得根據(jù)客戶的需求去改變測試的模塊從而滿足測試的需求。從中國新標(biāo)準(zhǔn)的制定，到自主品牌手機(jī)的生產(chǎn)及手機(jī)的終端測試，相信NI的平臺一定能為客戶提供更好的解決方案。

更多有關(guān)NI射頻和無線測試方面的內(nèi)容，請?jiān)L問下列網(wǎng)頁：http://www.ni.com/rf/zhs/

關(guān)于NI

自1976年以來，美國國家儀器，簡稱NI (www.ni.com)一直致力于為工程師和科學(xué)家提供各種工具來提高效率、加速創(chuàng)新和探索。 NI的圖形化系統(tǒng)設(shè)計(jì)方法為工程界提供了集成式的軟硬件平臺, 有助于加速測量和控制系統(tǒng)的開發(fā)。 長期以來，NI一直期望并努力通過自身的技術(shù)來改善社會(huì)的發(fā)展，確保客戶、員工、供應(yīng)商及股東獲得成功。